THIẾT BỊ ĐỊNH HÌNH BỀ MẶT QUANG HỌC 3D
Chúng tôi vừa đưa ra thị trường sản phẩm mới là thiết bị định hình bề mặt quang học 3D. Các thiết bị sử dụng phương pháp giao thoa kế ánh sáng trắng và là giải pháp đo lường lý tưởng để kiểm tra chức năng của các bề mặt với độ chính xác và độ tin cậy cao.
Các hệ thống đo lường bề mặt quang học 3D đánh giá các thông số như chiều cao, độ lượn sóng, độ phẳng, độ song song, cũng như độ nhám và cấu trúc vi mô trong phòng thí nghiệm nghiên cứu, trong dây chuyền sản xuất.
Để biết thêm thông tin chi tiết vui lòng truy cập: Optical 3D surface profilers from Polytec - Polytec
Các dòng sản phẩm:
TopMap Micro.View là thiết bị đo quang học dễ sử dụng và nhỏ gọn. Micro.View là giải pháp kiểm soát chất lượng hiệu quả về chi phí để phân tích bề mặt của kỹ thuật chính xác, để kiểm tra độ nhám, cấu trúc vi mô và nhiều chi tiết bề mặt hơn.
TopMap Micro.View+ là công cụ đáng tin cậy trong việc định dạng bề mặt quang học thế hệ tiếp theo để thực hiện các nhiệm vụ phân tích khó khăn nhất liên quan đến hoàn thiện bề mặt và cấu trúc vi mô với độ chính xác tối đa. Focus Finder và Focus Tracker hỗ trợ giữ cho các mẫu tập trung mọi lúc, với các bộ phận định vị hoàn toàn bằng động cơ tự động hóa.
Thiết bị lý tưởng để mô tả đặc tính bề mặt 3D nhanh chóng và chính xác. Phép đo tổng thể của TopMap Pro.Surf đảm bảo không bỏ lỡ bất kỳ chi tiết nào khi kiểm tra bề mặt phôi của bạn. Thời gian đo ngắn và phạm vi quan sát lớn đặc trưng cho TopMap Pro.Surf.
Thiết bị định hình bề mặt quang học 3D tất cả trong một từ Polytec. Độ chính xác của giao thoa kế ánh sáng trắng, được bổ sung bởi các cảm biến lấy nét màu sắc để khắc phục độ lệch và bất kỳ độ nhám nào được xác định bằng một thiết bị. Pro.Surf + đo trên một khu vực rộng lớn, đặc trưng cho các cấu trúc với độ phân giải nanomet.
Là một trạm đo hoàn chỉnh, TopMap Metro.Lab lý tưởng cho các bề mặt có diện tích lớn trên hầu hết các bề mặt. Giá thành rẻ, nên phù hợp với các công ty nhỏ và ít nhiệm vụ hơn.
